3次元計測電子顕微鏡
本所(松江市北陵町)
機器開放対応:◯
お問合せ・申込先 化学応用科:0852-60-5125
使用料 1060円 / 時間

データ
数千倍での表面観察や観察部位の元素分析を行う装置。
元素分析はポイントごとの定性分析、視野内の線分析、マッピング分析が可能です。
基準画像と傾斜画像の組み合わせにより、3D表示ソフトを使用した3次元計測も可能です。
スペック
メーカー | 日本電子 |
---|---|
型式 | JSM-IT100LA |
電子銃 | タングステンフィラメント |
観察倍率 | 40~10,000倍 |
検出元素 | B~U |
詳細情報を表示 詳細情報を非表示
加速電圧 | 0.5~30kV |
---|---|
最大試料サイズ | 50(W)×50(D)×30(H)mm |
その他 | ・低真空モード |
導入年度 | 平成28年度 |
試料ホルダー
主な用途
・ミクロンサイズでの表面観察
・金属の欠陥観察・分析
・元素分析による異物調査
・材料の元素分布の確認
・3次元表示ソフトによる、試料表面の凸凹解析
異物分析例