過度熱抵抗測定装置

データ

本装置は、電子機器や電子部品の熱評価を行う装置です。半導体部品、製品それぞれのレベルで過渡熱抵抗測定、およびその結果から熱経路上の熱構造を構造関数グラフにより可視化可能です。また、LED 評価用積分球を備え、光束の温度依存性、発光効率とジャンクション温度の関係等の測定が可能です